“全仪测控”*新发布的SLIMSAS GEN4 系列的测试夹具符合根据SAS4.0测试规范,可以通过*A/2.92 接头轻松连接、测量或数据通信,该系列测试夹具适用于SAS Raw Cable / Assembly / Connector 高频特性的合规性测试,具备优异的阻抗匹配,对该类型的产品研发及品保等相关部门能达到实时检测 / 实时修正的功能,以提升产品良率,缩短产品开发时程,并可提升客户对质量的整体满意度。
QYSAS-GEN4系列的测试夹具可测试衰减、差分阻抗等各类高频性能指标,解决市面同类产品测试系统精度/可靠性差以及测试解决方案成本过高等问题,从而为客户提供费效比*的系统级高频测试解决方案及设备。
该系列产品包含:QYSAS4-SL8i-TFT-P、QYSAS4-SL8i-TFT-R、QYSAS4-SL4i-TFT-P、QYSAS4-SL4i-TFT-R以及对应的校准治具,可测试以下参数:
时域反射仪 (TDR)
TDR Mode:
- 同模阻抗(Common Mode Impedance)
- 差分阻抗(Differential Impedance)
- 连接器阻抗(Connector Impedance)
- 对间匹配阻抗(Pair Match Impedance)
TDT Mode:
- 对内延迟差(IntraPair Skew)
- 上升时间(Differential Risetime)
网络分析仪 (NA)
S21 Mode:
- 衰减(Attenuation)
- *大近端串音(Max Near End Noise, Optional Parameter)
- *大近端串音和(Max Sum of Far End Noise, Optional Parameter)
产品图例:
Slimlink 8i 产品
Slimlink 4i 产品
更过信息可百度访问“全仪测控”官网: http://*.quanyi-mc.com,可查询更丰富的“射频微波自动化测试”行业资讯。